芯片缺陷检测，芯片外观缺陷检测系统方案

发布日期：2021-06-09

随着科技的发展，在现在的工业市场上，芯片的品种非常多，并且在不断增加。每种芯片产量少则几千件，多则上万件。 为保证芯片的尺寸精度，每一篇芯片需要检测设备进行全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级。 传统的解决方案采...